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簡(jiǎn)單介紹：
LP-701型四探針探頭(長(zhǎng)把手設(shè)計(jì))是一種專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的四探針測(cè)試探頭，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
詳情介紹：
LP-701型四探針探頭
LP-701型四探針探頭(長(zhǎng)把手設(shè)計(jì))是一種專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的四探針測(cè)試探頭，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
LP-701型四探針探頭特性及規(guī)格：
1；特制之長(zhǎng)把手設(shè)計(jì)手握式探筆，把手長(zhǎng)度14cm
2；球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜不被損傷
3；探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測(cè)試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞
4；探頭使用壽命長(zhǎng)
5；探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ